„„„Test combinatoireBanc de testCircuit combinatoireTest exhaustifandre.stauffer@epfl.chBanc de testDéfinition et conventionsbanc de test: dispositif formé par l’interconnexion d’un bloc testeur et d’un circuit sous test pour s’assurer du bon fonctionnement de ce derniersignal_sti: stimuli généré par le bloc testeur et appliqué au circuit sous testsignal_obs: signal observé produit par le circuit sous test et ramené au bloc testeursignal_ref: signal de référence calculé par le bloc testeur et comparé au signal observé1Banc de testCircuit combinatoire sous testTESTEURS_OBSCOMBE_STIE SschémaBanc de testBloc testeurarchitecture test: déclarations2Banc de testarchitecture test: horloge interneBanc de testarchitecture test: stimuli et références3Banc de testarchitecture test: vérificationsCircuit combinatoireAfficheur linéaire d’écartDISPLAYA2:0Z7:0B2:0symbole4Circuit combinatoireAfficheur linéaire d’écartA2:0 B2:0 Z7 Z6 Z5 Z4 Z3 Z2 Z1 Z00 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 10 1 1 1 1 0 0 1 1 1 1 0 0 01 0 0 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 01 0 1 0 0 1 0 0 1 1 1 1 1 01 1 1 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0exemples d’affichageCircuit combinatoireAfficheur linéaire d’écartCOMPA2:0 P P>QB2:0 QMUXG MAXMAX2:0 D7:0B2:0 0A2:0 1&Z7:0MUXG MINMIN2:0 G7:0A2:0 0B2:0 1schéma5Circuit combinatoireComposant de base: transcodeur binaire-linéaireB2 B1 B0 L7 L6 L5 L4 L3 L2 L1 L00 0 0 0 0 0 0 0 0 0 10 0 1 0 0 0 0 0 0 1 10 1 0 0 0 0 0 0 1 1 10 1 1 0 0 0 ...
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